fbpx Using MeV ion backscattering/channeling and MC simulations to characterize the composition and structure of buried metal-metal interfaces |الجامعة العربية الأمريكية
معلومات التواصل للدعم الفني ومساعدة الطلبة ... إضغط هنا

Using MeV ion backscattering/channeling and MC simulations to characterize the composition and structure of buried metal-metal interfaces

Authors: 
R. J. Smith
C.V. Ramana
Bum-sik Choi
, Adli A. Saleh
N.R. Shivaparan
V. Shutthanandan
Journal Name: 
Applied Surface Science
Volume: 
219
Issue: 
1
Pages From: 
28
To: 
38
Date: 
الأربعاء, يناير 1, 2003