fbpx High energy ion scattering yields (HEIS) and X ray photoelectron intensities (XPS) from simulated bimetallic surfaces using Monte Carlo methods: Thin Ni films on Al(110) |الجامعة العربية الأمريكية
معلومات التواصل للدعم الفني ومساعدة الطلبة ... إضغط هنا

High energy ion scattering yields (HEIS) and X ray photoelectron intensities (XPS) from simulated bimetallic surfaces using Monte Carlo methods: Thin Ni films on Al(110)

Authors: 
V. Shutthanandan
Adli A. Saleh
R. J. Smith
Conference: 
March meeting of the American physical society
Location: 
Pittsburgh, PA
Date: 
الاثنين, مارس 21, 1994
جميع الحقوق محفوظة للجامعة العربية الأمريكية © 2000-2024.